목록 게시판 리스트 옵션 검색 SHIMADZU AIMsight™ Description · 적외선(IR) 현미경 자동화를 극대화하여 미세 샘플 결함 분석의 효율성을 향상시키는 자동 분석 시스템 · 광시야 카메라를 통한 손쉬운 측정 범위 결정, 측정 대상 자동 식별, 측정 위치 자동 설정, 오염 물질 분석 프로그램을 통한 자동 분석 등 사용자 친화적인 여러 기능 탑재 · 화학, 전자, 기계 및 운송 장비와 같은 제품에 대한 미량 오염물질 분석 및 품질 관리 외에도 환경에 부정적인 영향 제품 문의하기 카탈로그 보기 제품소개 규격표 주문정보표 본문 간편한 시료 로딩 [Eject Sample] 버튼을 누르면 자동으로 스테이지가 낮아지고대물렌즈가 전환되어 공간이 확장되어 샘플을 쉽게 로드하고 제거할 수 있습니다.하단 콘덴서 미러를 제거하면 최대 40mm 두께의 샘플에 대한 반사율/ATR 측정이 가능합니다.측정 위치를 신속히 결정현미경 카메라Wide-Filed 카메라와 현미경 카메라가 시료 관찰을 서포트합하여 측정 위치를 신속히 결정하며광시야 카메라는 최대 10×13 mm의 넓은 시야로 관찰이 가능하며 디지털 줌도 가능합니다.현미경 카메라와 위치 정보를 공유하여 최소 30×40 μm의 상당히 작은영역을 약 330배 디지털 줌 기능으로 관찰할 수 있도록 구현했습니다.(현미경 카메라는 10배까지 가변 디지털 줌 대응 가능)가시/적외선 Dual View 시스템시료의 가시적인 이미지를 확인하면서 적외선 스펙트럼을 측정할 수 있어물체의 위치를 확인하면서 스펙트럼을 측정할 수 있으므로 가시광선과 적외선을번갈아 가며 번거롭게 작업할 필요가 없고 타일링 기능과 함께 사용하면 가시 관찰 및 적외선측정이 스테이지 작동 범위 내 어디에서나 수행될 수 있으므로 샘플 위치를 변경할 필요가 없습니다.오염 물질 자동 인식 기능오염 물질 자동 인식 프로그램으로 소프트웨어가 측정 대상을자동으로 인식하는 기능이 표준 탑재되어 있고 버튼 하나를 클릭하면 소프트웨어가 대상 물질을 자동으로 인식합니다.최적 구경 크기와 각도를 불과 1분 만에 결정하고 표준 타입과극미소부에 특화된 타입 2종류 중 목적에 맞는 타입을 고를 수 있고자동으로 결정된 위치를 그대로 측정하면 되지만 분석자가측정 위치를 추가/삭제하는 것도 가능합니다.측정된 각 스펙트럼에 대해 샘플 이미지가 자동으로 저장되고나중에 샘플이나 측정 위치를 쉽게 확인할 수 있습니다.고감도로 극미소부 측정극미소부 측정에 특화된 광학 설계를 통해 최고 수준의 S/N 30,000 : 1을 보유하고대상 물질이 미세한 크기라도 단시간에 양호한 스펙트럼을 얻을 수 있습니다.폴리스틸렌 비즈 투과 측정φ10 μm 폴리스틸렌 비즈를 측정한 결과로 작은 시료이지만 불과몇 번의 스캔으로 노이즈가 작은 스펙트럼을 얻을 수 있습니다.고감도 ATR 측정ATR(Ge 프리즘)로 고감도 ATR 측정이 가능하고 적외선 입사 각도를 깊게 조사할 수 있어 흑색고무 등 높은 굴절률을 가진 시료 측정에도 왜곡 없는 양호한 ATR 스펙트럼을 얻을 수 있습니다.길이 측정 기능AMsolution에 길이 측정 기능이 추가되었고 적외선 현미경으로 얻은 이미지 상에서대상 물질의 길이를 측정할 수 있고 버튼 하나로 측정 결과를 리포트로 출력할 수 있습니다.시료 자동 식별 기능⊙ 대상 물질 정성을 Full Support높은 적중률을 보유한 오리지널 라이브러리로 이물질라이브러리와 가열 열화 플라스틱 라이브러리를 보유하고 있으며LabSolutions IR용 오염물질 라이브러리, 열 손상 플라스틱라이브러리 UV 손상 플라스틱 라이브러리를 보유하고 있습니다.⊙ 이물질 분석 프로그램대상 물질 자동 정성으로 오염 물질 분석 프로그램(객체를 자동으로 검증하는 기능)은LabSolutions™ IR 소프트웨어의 표준 기능으로 포함되어 있고 AMsolution을사용하여 측정된 스펙트럼을 직접 로드하여 분석할 수 있습니다.오염물질 분석 프로그램은 Shimadzu의 독점 식별 알고리즘(특허 JP5205918)과 결합하여 일반적으로오염물질로 감지되는 물질에 대한 스펙트럼 라이브러리를 사용하여 측정 대상을 고정밀도로 식별합니다.물체가 혼합물이더라도 시스템은 1차 및 2차 구성 요소를 검색하고 식별된 물질의 확률을 표시하고혼합물의 성분 수를 명시할 필요가 없으므로 적외선 분석 경험이 없는 사람이라도 쉽게 분석할 수 있습니다.스펙트럼 어드바이저 (특허 출원 중)적외선 현미경 특유의 조작과 부속품으로 인한 Trouble Shooting을 구현하고 측정한스펙트럼과 측정 사례를 대조하여 개선 방법을 제안하여 양질의 데이터 획득이 가능합니다.성분 이미지로 확인Peak의 높이와 면적, 다변량 분석 (PCR/MCR) 또는 대상 스펙트럼과 일치도를 비교하여Chemical Image를 작성하고 육안으로 확인할 수 없는 성분 분포를 가시화할 수 있습니다. 광학시스템 15× Cassegrain objective mirror for IR 15× Cassegrain condenser mirror for IR 50×/100× objective lens for Raman 적외선측정 측정파수 T2SL detector : 5,000 ~ 700 cm-1 TGS detector : 4,600 ~ 400 cm-1 라만측정 S/N비 IRTracer-100 : 30,000:1 IRXross : 25,000:1 IRAffinity-1S : 15,000:1 여기레이저 532 nm semiconductor excitation solid-state laser 785 nm semiconductor laser 측정파수 4,000 cm-1 ~ 150 cm-1 (532 nm) 3,200 cm-1 ~ 150 cm-1 (785 nm) 공간해상도 Plane direction : 5 μm or better (50× objective lens), 3 μm or better (100× objective lens) Depth direction : 15 μm or better (50× objective lens), 7.5 μm or better (100× objective lens) 이전글AIRsight (적외선/라만현미경) 25.06.16 다음글IRTracer-100 25.06.16
